媒体报道

        在一年一度的电力电子器件产业链重要展示平台“PCIM Asia”上，武汉普赛斯仪表有限公司（以下简称“普赛斯仪表”）现场展示了国产化高精密数字源表（SMU）、功率半导体静态参数测试系统等电性能表征一站式解决方案，为行业带来一场技术革新与国产化的双重盛宴。其中，从实验室到小批量、大批量产线全覆盖 ，从Si IGBT、SiC MOS到GaN HEMT全覆盖 ，从晶圆、芯片、器件、模块到IPM全覆盖的功率半导体静态参数测试一站式解决方案备受瞩目。

一、国产化浪潮下的技术突破，赋能产业升级

        在功率半导体领域，高端测试设备长期依赖进口，不仅增加了企业的运营成本，也限制了国内产业链的自主可控能力。普赛斯仪表深刻洞察这一行业痛点，致力于研发具有自主知识产权的功率半导体测试设备，力求在关键测试技术上实现国产化替代。

        展会现场，普赛斯仪表全面展示了其最新研发成果，包括半导体参数分析仪、功率器件静态参数测试系统、功率器件静态高低温半自动测试系统、功率器件静态参数产线半自动化测试系统，这些系统覆盖了从MOSFET、IGBT到SiC、GaN等新型功率半导体器件的全面测试需求，为功率半导体制造商、科研机构及终端应用企业提供了从研发到生产的全链条测试支持。

二、聚焦行业痛点，创新驱动发展    

        随着新能源汽车、轨道交通、5G通信、工业互联网等新兴领域的快速发展，功率半导体的市场需求持续增长，对测试技术的要求也将更加严苛。尤其是800V碳化硅高压平台的出现，为测试带来新的难点：

Ø更宽的测试范围、更强的测试能力

Ø更大的体二极管导通电压

Ø更低的比导通电阻

Ø扫描模式对阈值电压漂移的影响

Ø高压低噪声隔离电源的实现

Ø高压小电流测量技术、高压线性功放的研究

Ø低电感回路实现

        面对功率半导体行业对测试能力、精度、速度及稳定性的高要求，普赛斯仪表不断创新，集成核心自主研发的高压测试单元、大电流测试单元、小功率测试单元，采用先进的测试算法与信号处理技术，确保测试结果的准确性与可靠性。用户可轻松实现测试流程的自动化、数据处理的智能化以及测试报告的快速生成，这一解决方案极大地提高了测试效率。据悉，普赛斯仪表还与上下游企业进行紧密合作，共同推动功率器件测试产品线的完善，促进整个产业链的协同发展。  

三、打破桎梏，突破国产化功率半导体测试

        展会现场，普赛斯仪表副总经理兼技术负责人王承博士表示，高功率密度和低损耗是当前功率半导体的技术发展方向，作为各类电力电子装置的重要组成部分，功率半导体对系统的效率、可靠性、能量转换效率等性能起着决定性作用。     

        普赛斯仪表以核心源表为基础，推出了半导体参数分析仪、功率器件静态参数测试系统、静态高低温测试系统以及静态参数产线半自动化测试系统，这些设备具备高精度与大范围测试能力（10kV/6000A）、多元化测试功能(IV/CV/跨导）、高低温测试能力（-55℃~250℃），还可提供定制化夹具解决方案，具有高度易用性、灵活性和可扩展性，任何工程师都能快速掌握并使用，从而提升测试效率和产线UPH。此外，通过普赛斯仪表提供的一站式解决方案，用户可以避免购买多套设备和夹具，从而降低整体测试成本。

        此外，我们还了解到，普赛斯仪表功率器件静态参数测试系统已经销往全国并出口海外，被国内外多家半导体头部企业认可。  

        PCIM Asia 2024不仅是全球电力电子领域的一次盛会，更是普赛斯仪表展示其国产化功率半导体静态参数测试一站式解决方案的重要舞台。作为国内首家成功实现高精密数字源表SMU产业化的企业，我们期待普赛斯仪表能够以此为契机，持续发挥技术优势，推陈出新，为行业提供更加先进、更加全面的测试解决方案，进一步推动中国功率半导体测试技术的自主化进程。